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常用測試方法有哪些相關內容

常用的性能測試方法有哪些

1.負載測試
在這里,負載測試指的是最常見的驗證一般性能需求而進行的性能測試,在上面我們提到了用戶最常見的性能需求就是“既要馬兒跑,又要馬兒少吃草”。因此負載測試主要是考察軟件系統在既定負載下的性能表現。我們對負載測試可以有如下理解:
(1)負載測試是站在用戶的角度去觀察在一定條件下軟件系統的性能表現。
(2)負載測試的預期結果是用戶的性能需求得到滿足。此指標一般體現為響應時間、交易容量、并發容量、資源使用率等。
2.壓力測試
壓力測試是為了考察系統在極端條件下的表現,極端條件可以是超負荷的交易量和并發用戶數。注意,這個極端條件并不一定是用戶的性能需求,可能要遠遠高于用戶的性能需求。可以這樣理解,壓力測試和負載測試不同的是,壓力測試的預期結果就是系統出現問題,而我們要考察的是系統處理問題的方式。比如說,我們期待一個系統在面臨壓力的情況下能夠保持穩定,處理速度可以變慢,但不能系統崩潰。因此,壓力測試是能讓我們識別系統的弱點和在極限負載下程序將如何運行。
例子:負載測試關心的是用戶規則和需求,壓力測試關心的是軟件系統本身。對于它們的區別,我們可以用華山論劍的例子來更加形象地描述一下。如果把郭靖看做被測試對象,那么壓力測試就像是郭靖和已經走火入魔的歐陽峰過招,歐陽鋒蠻打亂來,毫無套路,盡可能地去對方。郭靖要能應對住,并且不能丟進小命。而常規性能測試就好比郭靖和黃藥師、洪七公三人約定,只要郭靖能分別接兩位高手一百招,郭靖就算勝。至于三百招后哪怕郭靖會輸掉那也不用管了。他只要能做到接下一百招,就算通過。
思考
我們在做軟件壓力測試時,往往要增加比負載測試更多的并發用戶和交易,這是為什么?
3.并發測試
驗證系統的并發處理能力。一般是和服務器端建立大量的并發連接,通過客戶端的響應時間和服務器端的性能監測情況來判斷系統是否達到了既定的并發能力指標。負載測試往往就會使用并發來創造負載,之所以把并發測試單獨提出來,是因為并發測試往往涉及服務器的并發容量,以及多進程/多線程協調同步可能帶來的問題。這是要特別注意,必須測試的。
4.基準測試
當軟件系統中增加一個新的模塊的時候,需要做基準測試,以判斷新模塊對整個軟件系統的性能影響。按照基準測試的方法,需要打開/關閉新模塊至少各做一次測試。關閉模塊之前的系統各個性能指標記下來作為基準(Benchmark),然后與打開模塊狀態下的系統性能指標作比較,以判斷模塊對系統性能的影響。
5.穩定性測試
“路遙知馬力”,在這里我們要說的是和性能測試有關的穩定性測試,即測試系統在一定負載下運行長時間后是否會發生問題。軟件系統的有些問題是不能一下子就暴露出來的,或者說是需要時間積累才能達到能夠度量的程度。為什么會需要這樣的測試呢?因為有些軟件的問題只有在運行一天或一個星期甚至更長的時間才會暴露。這種問題一般是程序占用資源卻不能及時釋放而引起的。比如,內存泄漏問題就是經過一段時間積累才會慢慢變得顯著,在運行初期卻很難檢測出來;還有客戶端和服務器在負載運行一段時間后,建立了大量的連接通路,卻不能有效地復用或及時釋放。
6.可恢復測試
測試系統能否快速地從錯誤狀態中恢復到正常狀態。比如,在一個配有負載均衡的系統中,主機承受了壓力無法正常工作后,備份機是否能夠快速地接管負載。可恢復測試通常結合壓力測試一起來做。
提示:每種測(ce)試(shi)(shi)(shi)有其存(cun)在的空間和目的。當我們接手一個(ge)軟(ruan)件(jian)(jian)項目后,在有限的資(zi)源條件(jian)(jian)下,選擇去做哪(na)一種測(ce)試(shi)(shi)(shi),這應該(gai)根據當前軟(ruan)件(jian)(jian)過程階段和項目的本(ben)身(shen)特(te)點來做選擇。比如,在集成測(ce)試(shi)(shi)(shi)的時候(hou)要做基(ji)準測(ce)試(shi)(shi)(shi),在軟(ruan)件(jian)(jian)產品每個(ge)發布點要做性能測(ce)試(shi)(shi)(shi)。...

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常用的硬度測量方法有哪些

洛氏硬度(du)和(he)(he)布氏硬度(du),是(shi)兩種(zhong)(zhong)不同的(de)(de)(de)測試(shi)(shi)(shi)硬度(du)標(biao)準方(fang)(fang)法。1.布氏硬度(du)用(yong)(yong)規定(ding)直(zhi)徑的(de)(de)(de)鋼(gang)(gang)(gang)球(qiu)或硬質(zhi)合(he)金(jin)球(qiu),以(yi)規定(ding)的(de)(de)(de)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)力(F)壓(ya)入式(shi)樣表(biao)面(mian),經規定(ding)保(bao)持時間后(hou)卸(xie)除試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)力,測量試(shi)(shi)(shi)樣表(biao)面(mian)的(de)(de)(de)壓(ya)痕直(zhi)徑(L)。布氏硬度(du)值(zhi)是(shi)以(yi)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)力除以(yi)壓(ya)痕球(qiu)形(xing)表(biao)面(mian)積所(suo)得的(de)(de)(de)商。以(yi)HB表(biao)示。一般HBS只適用(yong)(yong)于(yu)450N/mm2(MPa)以(yi)下的(de)(de)(de)金(jin)屬(shu)材(cai)料(liao)(熱處理硬度(du)不高,如調質(zhi),正火(huo)(huo)(huo)(huo)、回火(huo)(huo)(huo)(huo)等狀態)。2.洛氏硬度(du)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)采(cai)用(yong)(yong)三(san)種(zhong)(zhong)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)力,三(san)種(zhong)(zhong)壓(ya)頭(tou),它(ta)們(men)共有9種(zhong)(zhong)組合(he),對應(ying)于(yu)洛氏硬度(du)的(de)(de)(de)9個標(biao)尺。這9個標(biao)尺的(de)(de)(de)應(ying)用(yong)(yong)涵蓋了幾乎(hu)所(suo)有常(chang)用(yong)(yong)的(de)(de)(de)金(jin)屬(shu)材(cai)料(liao)。最(zui)常(chang)用(yong)(yong)標(biao)尺是(shi)HRC、HRB和(he)(he)HRF,其中HRC標(biao)尺用(yong)(yong)于(yu)測試(shi)(shi)(shi)淬火(huo)(huo)(huo)(huo)鋼(gang)(gang)(gang)、回火(huo)(huo)(huo)(huo)鋼(gang)(gang)(gang)、調質(zhi)鋼(gang)(gang)(gang)和(he)(he)部(bu)分(fen)不銹鋼(gang)(gang)(gang)。這是(shi)金(jin)屬(shu)加工行業應(ying)用(yong)(yong)最(zui)多的(de)(de)(de)硬度(du)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)方(fang)(fang)法。HRB標(biao)尺用(yong)(yong)于(yu)測試(shi)(shi)(shi)各種(zhong)(zhong)退火(huo)(huo)(huo)(huo)鋼(gang)(gang)(gang)、正火(huo)(huo)(huo)(huo)鋼(gang)(gang)(gang)、軟鋼(gang)(gang)(gang)、部(bu)分(fen)不銹鋼(gang)(gang)(gang)及(ji)較(jiao)硬的(de)(de)(de)銅合(he)金(jin)。HRF標(biao)尺用(yong)(yong)于(yu)測試(shi)(shi)(shi)純銅、較(jiao)軟的(de)(de)(de)銅合(he)金(jin)和(he)(he)硬鋁合(he)金(jin)。HRA標(biao)尺盡管也可(ke)用(yong)(yong)于(yu)大多數(shu)黑色(se)金(jin)屬(shu),但(dan)是(shi)實(shi)際(ji)應(ying)用(yong)(yong)上一般只限于(yu)測試(shi)(shi)(shi)硬質(zhi)合(he)金(jin)和(he)(he)薄硬鋼(gang)(gang)(gang)帶材(cai)料(liao)。...

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常用的黑盒測試方法有哪些?

常用的(de)黑(hei)盒(he)測試(shi)技術有劃(hua)分(fen)等(deng)價(jia)類、邊界值(zhi)分(fen)析(xi)法、錯(cuo)誤推(tui)測法、因果(guo)圖法、判定表組成(cheng)法、正交試(shi)驗(yan)設計、場景法。

黑(hei)(hei)盒(he)(he)測(ce)(ce)(ce)試(shi),它是通過測(ce)(ce)(ce)試(shi)來檢(jian)測(ce)(ce)(ce)每個功能(neng)(neng)(neng)是否(fou)都(dou)能(neng)(neng)(neng)正常使(shi)用(yong)。在(zai)測(ce)(ce)(ce)試(shi)中(zhong),把(ba)程序(xu)看作一個不能(neng)(neng)(neng)打(da)開的(de)黑(hei)(hei)盒(he)(he)子,在(zai)完全(quan)不考(kao)慮程序(xu)內(nei)部(bu)(bu)結(jie)構和內(nei)部(bu)(bu)特性的(de)情況下,在(zai)程序(xu)接口進行(xing)測(ce)(ce)(ce)試(shi),它只(zhi)檢(jian)查程序(xu)功能(neng)(neng)(neng)是否(fou)按照需求規格說明書的(de)規定正常使(shi)用(yong),程序(xu)是否(fou)能(neng)(neng)(neng)適當地接收(shou)輸入數(shu)據而產生(sheng)正確的(de)輸出信息。黑(hei)(hei)盒(he)(he)測(ce)(ce)(ce)試(shi)著眼于程序(xu)外部(bu)(bu)結(jie)構,不考(kao)慮內(nei)部(bu)(bu)邏輯結(jie)構,主要針對軟件界面和軟件功能(neng)(neng)(neng)進行(xing)測(ce)(ce)(ce)試(shi)。

擴展資料:

黑盒(he)測試是以用(yong)戶的角度,從輸入數據(ju)與輸出數據(ju)的對應關系出發(fa)進(jin)行測試的。很(hen)明顯,如(ru)果外部特性本身(shen)設(she)計(ji)有(you)問題或規(gui)(gui)格說明的規(gui)(gui)定有(you)誤,用(yong)黑盒(he)測試方法(fa)是發(fa)現不了的。

采用(yong)(yong)(yong)(yong)(yong)這種測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)方法(fa),測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)工(gong)程師把測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)對(dui)象看作一個黑盒(he)(he)子(zi),完(wan)全不(bu)考(kao)慮程序內(nei)部的(de)(de)(de)(de)邏輯(ji)結構和內(nei)部特性(xing)(xing),只依(yi)據程序的(de)(de)(de)(de)《需(xu)(xu)(xu)求規格說明(ming)書》,檢查(cha)程序的(de)(de)(de)(de)功(gong)能(neng)(neng)是否符合(he)它的(de)(de)(de)(de)功(gong)能(neng)(neng)說明(ming)。測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)工(gong)程師無(wu)需(xu)(xu)(xu)了解程序代碼的(de)(de)(de)(de)內(nei)部構造,完(wan)全模擬軟件(jian)產品(pin)的(de)(de)(de)(de)最終用(yong)(yong)(yong)(yong)(yong)戶(hu)使用(yong)(yong)(yong)(yong)(yong)該軟件(jian),檢查(cha)軟件(jian)產品(pin)是否達到了用(yong)(yong)(yong)(yong)(yong)戶(hu)的(de)(de)(de)(de)需(xu)(xu)(xu)求。黑盒(he)(he)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)方法(fa)能(neng)(neng)更好、更真實地(di)從用(yong)(yong)(yong)(yong)(yong)戶(hu)角度來考(kao)察被測(ce)(ce)(ce)系統的(de)(de)(de)(de)功(gong)能(neng)(neng)性(xing)(xing)需(xu)(xu)(xu)求實現情況。在軟件(jian)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)各個階(jie)(jie)段(duan),如(ru)單元測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)、集成測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)、系統測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)及驗收(shou)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)等階(jie)(jie)段(duan)中,黑盒(he)(he)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)都(dou)發揮著(zhu)重要作用(yong)(yong)(yong)(yong)(yong),尤其在系統測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)和確認測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)中,其作用(yong)(yong)(yong)(yong)(yong)是其他(ta)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)方法(fa)無(wu)法(fa)取代的(de)(de)(de)(de)。

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常見的測試用例設計方法都有哪些

黑盒測試用例設計方法包括等價類劃分法、邊界值分析法、錯誤推測法、因果圖法、判定表驅動法、正交試驗設計法、功能圖法、場景圖法等。
白盒子測試方法:(強度由低到高)語句覆蓋、判定覆蓋、條件覆蓋、判定條件覆蓋、條件組合覆蓋、路徑覆蓋。
測試人員經常用到的有等價類,邊界值,場景法,因果圖法。
具(ju)體方法的(de)使用可以百(bai)度下,這里(li)就不啰嗦(suo)了。...

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常見的黑盒測試方法有哪些

常用的黑盒測試方法(fa)有劃(hua)分等價類、邊界值分析法(fa)、錯誤推測法(fa)、因果圖(tu)法(fa)、判定表組成(cheng)法(fa)、正交(jiao)試驗設計、場(chang)景法(fa)。

黑盒測(ce)試(shi)(shi),它是(shi)通過(guo)測(ce)試(shi)(shi)來檢測(ce)每(mei)個(ge)功能(neng)(neng)(neng)是(shi)否都能(neng)(neng)(neng)正(zheng)常使用(yong)(yong)。在測(ce)試(shi)(shi)中(zhong),把程序(xu)(xu)(xu)看作一個(ge)不(bu)能(neng)(neng)(neng)打開的(de)(de)黑盒子,在完全(quan)不(bu)考(kao)慮(lv)程序(xu)(xu)(xu)內部結構和內部特性的(de)(de)情況下,在程序(xu)(xu)(xu)接口進行(xing)測(ce)試(shi)(shi),它只檢查程序(xu)(xu)(xu)功能(neng)(neng)(neng)是(shi)否按(an)照需(xu)求規(gui)格說明(ming)書的(de)(de)規(gui)定正(zheng)常使用(yong)(yong),程序(xu)(xu)(xu)是(shi)否能(neng)(neng)(neng)適當(dang)地(di)接收輸(shu)(shu)入(ru)數據而(er)產生正(zheng)確的(de)(de)輸(shu)(shu)出信息。黑盒測(ce)試(shi)(shi)著眼于程序(xu)(xu)(xu)外部結構,不(bu)考(kao)慮(lv)內部邏輯(ji)結構,主要針對(dui)軟件界(jie)面和軟件功能(neng)(neng)(neng)進行(xing)測(ce)試(shi)(shi)。

擴展資料:

黑(hei)盒測(ce)試是以(yi)用(yong)戶的(de)角度,從輸入數據與輸出數據的(de)對應關系出發進(jin)行測(ce)試的(de)。很明顯,如果外部特性(xing)本(ben)身設計有問題或規格說明的(de)規定有誤,用(yong)黑(hei)盒測(ce)試方法是發現不(bu)了的(de)。

采用(yong)這種測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)方(fang)法(fa)(fa),測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)工程(cheng)師(shi)把(ba)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)對象看(kan)作一(yi)個(ge)黑盒(he)子,完全(quan)不(bu)考慮程(cheng)序內(nei)部的邏輯結構和內(nei)部特性,只依據程(cheng)序的《需(xu)求(qiu)(qiu)規(gui)格說明書》,檢查(cha)程(cheng)序的功(gong)能(neng)(neng)是否符合(he)它的功(gong)能(neng)(neng)說明。測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)工程(cheng)師(shi)無需(xu)了解程(cheng)序代(dai)碼的內(nei)部構造,完全(quan)模擬軟件(jian)產(chan)品的最(zui)終用(yong)戶(hu)使(shi)用(yong)該軟件(jian),檢查(cha)軟件(jian)產(chan)品是否達到了用(yong)戶(hu)的需(xu)求(qiu)(qiu)。黑盒(he)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)方(fang)法(fa)(fa)能(neng)(neng)更(geng)好(hao)、更(geng)真實(shi)地從用(yong)戶(hu)角(jiao)度來(lai)考察被測(ce)(ce)(ce)(ce)系統的功(gong)能(neng)(neng)性需(xu)求(qiu)(qiu)實(shi)現情況。在軟件(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)的各(ge)個(ge)階(jie)段,如單元測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)、集成測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)、系統測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)及驗收(shou)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)等階(jie)段中(zhong),黑盒(he)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)都發揮著重要作用(yong),尤其在系統測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)和確認測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)中(zhong),其作用(yong)是其他(ta)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)方(fang)法(fa)(fa)無法(fa)(fa)取代(dai)的。

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什么是黑盒測試法,常用的黑盒測試方法有哪些

黑盒測(ce)試(shi)(shi)(shi),它是(shi)(shi)通過測(ce)試(shi)(shi)(shi)來檢測(ce)每個功(gong)能(neng)是(shi)(shi)否都能(neng)正常使用。在(zai)(zai)測(ce)試(shi)(shi)(shi)中,把(ba)程(cheng)(cheng)序(xu)看作一個不(bu)能(neng)打開的黑盒子,在(zai)(zai)完全不(bu)考(kao)慮(lv)程(cheng)(cheng)序(xu)內部(bu)(bu)結(jie)(jie)構和內部(bu)(bu)特性的情況下,在(zai)(zai)程(cheng)(cheng)序(xu)接口進行測(ce)試(shi)(shi)(shi),它只(zhi)檢查程(cheng)(cheng)序(xu)功(gong)能(neng)是(shi)(shi)否按(an)照需求規(gui)格(ge)說明(ming)書的規(gui)定正常使用,程(cheng)(cheng)序(xu)是(shi)(shi)否能(neng)適當地接收輸入數據而產生正確的輸出信息。黑盒測(ce)試(shi)(shi)(shi)著眼于程(cheng)(cheng)序(xu)外部(bu)(bu)結(jie)(jie)構,不(bu)考(kao)慮(lv)內部(bu)(bu)邏(luo)輯結(jie)(jie)構,主要針對(dui)軟件界面和軟件功(gong)能(neng)進行測(ce)試(shi)(shi)(shi)。

常用的黑(hei)盒測(ce)試技術有(you)劃分等(deng)價類(lei)、邊界值分析法(fa)、錯(cuo)誤推測(ce)法(fa)、因果圖法(fa)、判定表組成法(fa)、正交(jiao)試驗設計、場景法(fa)。

擴展資料:

黑盒(he)測(ce)試(shi)是以用戶的(de)角度,從輸入數(shu)據與輸出數(shu)據的(de)對應關系出發進(jin)行測(ce)試(shi)的(de)。很明顯,如(ru)果外部(bu)特(te)性本身設計有問題或規(gui)格(ge)說明的(de)規(gui)定有誤,用黑盒(he)測(ce)試(shi)方法是發現(xian)不了的(de)。

采(cai)用(yong)這種測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)方法,測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)工程師(shi)把測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)對象看作(zuo)一個(ge)黑(hei)(hei)盒子,完全不考慮程序(xu)內(nei)(nei)部的(de)(de)(de)邏輯結(jie)構和內(nei)(nei)部特性,只依(yi)據程序(xu)的(de)(de)(de)《需(xu)(xu)求(qiu)規格說明(ming)書》,檢查程序(xu)的(de)(de)(de)功能是否符合(he)它的(de)(de)(de)功能說明(ming)。測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)工程師(shi)無(wu)(wu)需(xu)(xu)了解程序(xu)代(dai)碼的(de)(de)(de)內(nei)(nei)部構造,完全模擬軟(ruan)件(jian)(jian)產(chan)品(pin)的(de)(de)(de)最終用(yong)戶(hu)使用(yong)該軟(ruan)件(jian)(jian),檢查軟(ruan)件(jian)(jian)產(chan)品(pin)是否達到了用(yong)戶(hu)的(de)(de)(de)需(xu)(xu)求(qiu)。黑(hei)(hei)盒測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)方法能更(geng)好、更(geng)真(zhen)實地從用(yong)戶(hu)角度來考察被測(ce)(ce)(ce)系統的(de)(de)(de)功能性需(xu)(xu)求(qiu)實現情況。在(zai)軟(ruan)件(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)的(de)(de)(de)各個(ge)階(jie)段,如單元測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)、集成測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)、系統測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)及(ji)驗收測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)等階(jie)段中,黑(hei)(hei)盒測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)都(dou)發(fa)揮著重要作(zuo)用(yong),尤其(qi)在(zai)系統測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)和確認測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)中,其(qi)作(zuo)用(yong)是其(qi)他測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)方法無(wu)(wu)法取代(dai)的(de)(de)(de)。

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1984

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